納米粒度檢測(cè)儀是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，表征顆粒大小和分布的一種儀器。我司自主研發(fā)的國(guó)產(chǎn)納米粒度檢測(cè)儀是一款基于傷處原理研發(fā)的納米顆粒粒度表征分析儀。

分散在液體中的顆粒由于受到液體分子的熱運(yùn)動(dòng)撞擊而進(jìn)行不規(guī)則的布朗運(yùn)動(dòng)。在相同環(huán)境下，顆粒尺寸越小，布朗運(yùn)動(dòng)越劇烈，對(duì)應(yīng)顆粒的擴(kuò)散行為越明顯。當(dāng)一束激光照射到這些顆粒時(shí)，其散射光的強(qiáng)度會(huì)由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而隨機(jī)變化，且變化的快慢與顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的快慢有關(guān)。通過(guò)特定的光子相關(guān)器可直接測(cè)量散射光強(qiáng)的變化快慢，進(jìn)而可知顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的擴(kuò)散系數(shù)，再利用Stokes-Einstein公式即可計(jì)算得到顆粒的粒徑及其粒度分布。

納米粒度檢測(cè)儀應(yīng)用于磨料、化學(xué)機(jī)械拋光液、陶瓷、粘土、涂料、污染監(jiān)測(cè)、化妝品、乳劑、食品、液體工作介質(zhì)/油、墨水、  乳液、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白質(zhì)大分、二氧化硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等。

1、采用光子計(jì)數(shù)級(jí)高精度光電倍增管，暗計(jì)數(shù)低、光纖耦合，具備高速與高穩(wěn)定性。
2、搭載集成式光子相關(guān)器：基于FPGA架構(gòu)，集成雙通道光子計(jì)數(shù)器，光子無(wú)遺漏；1000個(gè)物理通道，測(cè)量數(shù)據(jù)充足；采樣時(shí)間小至100ns，可測(cè)低至1nm顆粒；芯片模塊化集成，數(shù)據(jù)處理高速穩(wěn)定。
3、配備高精度溫控系統(tǒng)：基于PWM控制，溫控精度達(dá)0.5℃，保障測(cè)量準(zhǔn)確性。